产品技术

AIR-WATCHER-T01 3D扫描雷达
荧光寿命分析仪（SHDROID-FLA-T01）

荧光寿命分析仪是一款高灵敏度荧光强度分析系统。多功能样品室，可满足不同用户的样品放置需求；光栅单色仪并配合高灵敏单光子探测器，专门针对微弱荧光进行强度进行检测；采用TCSPC多通道时间相关单光子计数系统进行数据采集，再配合功能丰富的数据采集及分析处理软件，可为电致发光、光致发光的应用提供技术支撑。

  • 系统特点
  • 应用领域
  • 参数详情
  • 波长可自动设置；
  • 可选配自动调节狭缝；
  • 荧光寿命32ps-31.2s；
  • 系统无需校准；
  • 自带计算机及分析软件；
  • 模块化设计,方便升级。
  • 发光材料分析；
  • 生物分子荧光分析；
  • 材料荧光光谱分析；
  • 拉曼光谱分析；
  • 元素分析；
  • 光学器件分析；
  • 粒子特征分析；
  • 荧光寿命分析；
  • 测量模式：TCSPC(时间相关单光子计数)；
  • 测量精度：32ps-500us，可通过软件设置；
  • 时间通道个数：1000-65000，可通过软件设置；
  • 数据获取：获取时间32ns—31.2s；通道数量1000—65000个；抖动时间小于11ps；
  • 激发源：可选配皮秒或纳秒激光器激发源或电脉冲激发源；
  • 检测器特性：单光子计数探测器；PMT响应范围300nm—700nm，暗计数50cps；可扩 展至870nm；或SPAD响应范围350nm-1060nm；
  • 荧光波长选择：通过单色仪自动调整，最小步进精度0.0045nm；
  • 数据分析：最小二乘法拟合，可获得荧光寿命等信息，可选择输出原始数据；
  • 操作系统：Window10；
  • 工作温湿度：-20°C to + 40°C / 小于 80%；
  • 存储温湿度：-20°C to + 80°C / 小于85% 。